S. Kubowicz, A. F. Thünemann, T. M. Geue, U. Pietsch, M. D. Watson, N. Tchebotareva, K. Müllen
X-ray reflectivity study of an amphiphilic hexa-peri-hexabenzocoronene at a structured silicon wafer surface.
Langmuir.  19(26), 10997-10999  (2003)
P-03-164