Sitemap Intranet Search
You are here: Home Facilities Electron & Optical Microscopy Equipment scanning electron microscopes

Scanninelectronmicroscopes

Rasterelektronenmikroskope



Hitachi SU8000

Hitachi SU8000
Spezifikationen
Beschleunigungspannung
0,1 ...30 kV
Auflösung bei 15 kV
1,0nm@WD=4mm
Auflösung bei 1 kV (Deceleration-Mode)
1,4nm@WD=1,5mm
Vergrößerungsbereich
20 x ... 800 kx

Ausstattung
  • EDX Detektor: Bruker AXS XFlash® 5010
  • Quorum KX1250 Cryo-Präparation und Transfer

Zeiss Gemini 1530

Zeiss Gemini 1530
Spezifikationen
Beschleunigungspannung
0,2 ...30 kV
Auflösung bei 30 kV
1,7 nm
Auflösung bei 1 kV
2 nm
Vergrößerungsbereich
20 x ... 200 kx

letzte Änderung: 31.5.2011
contact: Dr. Ingo Lieberwirth (Tel: 580)